임진과학
       

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Product Info.

뛰어난 확장성을 제공하는 UIS2 광학 제품

무한 보정의 장점을 극대화한 UIS2 광학 시스템은 편광판, 검판 또는 보정기 등 편광 요소가 광경로에 유입된 경우에도 광학 현미경 성능 저하를 방지하고 배율 요인을 제거합니다. BX53-P 현미경은 BX3 시리즈 현미경 뿐만 아니라 카메라 및 이미징 시스템에도 사용할 수 있는 중간 장착 장치를 허용합니다.

뛰어난 확장성을 제공하는 UIS2 광학 제품

석영 섬록암에서 사장석의 누대 구조 *척도는 표본의 실제 크기를 나타냅니다.


뛰어난 확장성을 제공하는 UIS2 광학 제품

MBBA의 광학적 질감  *척도는 표본의 실제 크기를 나타냅니다.


정상경 및 평광경 관찰용 베르트랑 렌즈

정상경 장착 장치를 이용하면 정상경과 평광경 관찰을 전환하기가 간편해집니다. 후방 초점면 간섭 패턴을 명확하게 보기 위해 초점을 조정할 수 있습니다. 베르트랑 렌즈는 후방 초점면 간섭 패턴을 명확하게 볼 수 있도록 초점을 조정할 수 있습니다. 시야 조리개로 선명하고 일관된 정상경 이미지를 얻을 수 있습니다.

정상경 및 평광경 관찰용 베르트랑 렌즈

매우 다양한 보정기 및 파장판

암석 및 광물 얇은 부분의 복굴절 측정을 위해 여섯 가지 보정기를 사용할 수 있습니다. 측정 시 위상차 정도의 범위는 0에서 20λ까지입니다. 보다 쉬운 측정과 높은 이미지 대비를 위한 Berek 및 Senarmont
보정기를 사용할 수 있으며, 이는 전체 시야에서 위상차 정도를 변경할 수 있게 해줍니다

보정기의 측정 범위

보정기 측정 범위 응용 분야
두꺼운 Berek
(U-CTB)
0–11000nm
(20λ)
높은 위상차 정도(R *> 3λ) 측정, (결정, 고분자, 섬유 등)
Berek
(U-CBE)
0–1640nm
(3λ)
위상차 정도 측정(결정, 고분자, 생물 등)
Senarmont
보정기
(U-CSE)
0–546nm
(1λ)
위상차 정도 측정(결정, 생물 등)
이미지 대비 향상(생물 등)
Brace-Koehler
보정기1/10λ
(U-CBR1)
0–55nm
(1/10λ)
낮은 위상차 정도 측정(생물 등)
Brace-Koehler
보정기1/30λ
(U-CBE2)
0–20nm
(1/30λ)
이미지 대비 측정(생물 등)
석영 쐐기
(U-CWE2)
500-2200nm
(4λ)
위상차 정도의 대략적인 측정(결정, 고분자 등)

*R=위상차 정도
보다 정확한 측정을 위해 간섭 필터 45-IF546과 함께 보정기(U-CWE2 제외)를 사용하는 것이 좋습니다.

매우 다양한 보정기 및 파장판

긴장이 최소화된 광학

당사의 편광 대물렌즈는 내부 긴장을 최소한으로 감소시킵니다. EF 값이 더 높아져 이미지 대비가 우수해집니다.

긴장이 최소화된 광학

견고하고 정확한 회전식 스테이지

회전식 스테이지에 부착된 회전식 중앙 장치는 표본을 부드럽게 회전시킬 수 있게 해줍니다. 또한 45도마다 클릭 중지 메커니즘이 있어 정확한 측정이 가능합니다. 이중 기계식 스테이지로 옵션으로 신중한 X-Y 이동이 가능합니다.


관찰 방법 명시야  
  편광  
  간이 편광  
포커스 포커스 메커니즘 스테이지 포커스
스테이지 기계식 정밀 회전 스테이지 회전 : 360
콘덴서 수동 편광 콘덴서 NA 0.9/ W.D. 1.3 mm (slide glass 1.5 mm) (4X–100X)
경통 광시야 (FN 22) 삼안
    틸팅 삼안
치수 (W x D x H)     274 (W) x 436 (D) x 535 (H) mm
무게     16 kg
   

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